DFT Guide

The IEEE Std. 1149.1 specifies both mandatory and optional device features. Mandatory features include the following:

• Every IEEE-1149.1 compliant device has to have implemented the following registers:
  • Bypass Register (1 bit long, capture value binary ‘0’)
  • Boundary Scan Register (design dependent length)
  • Instruction Register (at least two bit long, capture value binary ‘xx…01’)
• Every IEEE-1149.1 compliant device has to support the following test instructions:
  
  • BYPASS (opcode binary ’11…1’, and perhaps others)
  • SAMPLE (opcode defined by component designer)
  • PRELOAD (may be combined with SAMPLE, opcode defined by component designer)
  • EXTEST (opcode defined by component designer)
• Every IEEE-1149.1 compliant device has to provide four test bus signals:
  
  • TCK (Test Clock)
  • TMS (Test Mode Select)
  • TDI (Test Data In)
  • TDO (Test Data Out)
• Any negation of signal values within the Boundary Scan register is not permitted.
• Internal pull-up resistors are required on TDI and TMS. 
• Avoid Ground-Bounce problems.